電子部品測定検査機械メーカーのT社取締役兼技術部長を突如辞任した話　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　1.特許事件(村田製作所による特許窃盗 (疑い) を含む)：主にMLCCコンデンサ用短時間高速(Ref.1ms～20ms)IR測定検査法(全数IR測定検査法)に関して　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　2.基本開発目標測定検査不良率PPTのMLCC用測定検査システム開発実用化：1995年には測定検査不良率PPBレベルの測定検査システムとして実証：高誘電率セラミックの電気的物性を応用した全数IR測定検査法及び電圧印加後の⊿C及び⊿DFの変化を選定出来る測定検査法を含む　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　3.欠陥建築物：著名な建築家(RY)の設計施工管理問題　　：土屋