電子部品測定検査機械メーカーのT社取締役兼技術部長を突如辞任した話　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　1.特許事件(M社による特許盗用含む)：MLCCコンデンサ用短時間高速(Ref.1ms～20ms)IR測定検査(全数IR測定検査)に関して　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　2.基本開発目標測定検査不良率PPTのMLCC用測定検査システム開発実用化：1990年代に実検査不良率PPBレベル（推定）の測定検査システム実現化：高誘電率セラミックの電気的物性も応用　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　3.欠陥建築物：著名な建築家(RY)の設計施工管理問題　　：土屋

本記事は、私が電子部品測定検査機械メーカーT社の取締役兼技術部長を拝命していましたが、会社を私物化する会長および、特に社長の愚鈍な言動(己の極めて低レベルの考え方で総てを判断する愚かさ、何故なら彼には到底考えもつかないレベルで多種類の仕事を同時にこなす事が出来る技術者がいましたが、それを全く理解しようとしないし、理解出来ない様な最低の愚鈍さ）の問題により、已む無く急遽辞任せざるを得ない必要性が発生した話です。
その技術者は、高誘電率セラミック(特に、MLCC用セラミック誘電体)の物性の詳細とその応用、直流から高周波用の広範な電子部品の知識と応用、直流から高周波の広範な電子測定器の知識と応用技術、強電系の応用技術(特に、ローコストで瞬時停電に耐え誤動作しない電子部品測定検査システム化）、機械系(特に、電子部品測定検査システムのメインの駆動系の開発設計と実用化）、工場建設及び工場設備並びに工場付帯設備に関する技術、これ等の関連する法律関連及びPC系WS自作、全数IR測定検査等に依る開発設計目標PPTレベルのMLCC電子部品測定検査システム設計及び実用化等

1.技術的な事項(電子部品用検査システム開発設計および製品化（特に、全数IR測定検査に依るMLCC用基本的な目標測定検査不良率PPTレベル）、その他技術面に関して

1997年のこの頃私の本来の仕事が、電子部品測定検査機械メーカーT社の取締役兼技術部長を拝命していまして、超多忙(毎日12時間以上14時間勤務かな？)で、主に客策要望を叶える電子部品用検査システム開発設計（GHz台の高周波から直流迄の測定検査分類システム及び、テーピングシステム）及び製品化等々に邁進しておりました。（尚、過労で死に損なったのが、過去に3回あり、無論４回以上になりますと、即死ですから留意していました）
短時間高速IR測定検査法（高誘電率セラミック等の電子部品の全数IR測定検査が実現出来る）(特に、高誘電率セラミック用MLCCを含む))：私が発明実用化した特許で、100ms未満でms単位の全数IR測定検査の特許発明によりMLCCの信頼性が数十PPM程度からPPBレベル(以上)迄向上(下記の測定検査方法を含めた基本的な開発設計目標は、PPTレベル)する全数IR測定検査法を発明しました。更に、当時は特に高誘電率セラミック等MLCCを含む百万個単位の全数IR測定検査は、各々略壱万～弐萬時間程度要し製造現場では基本的並びに物理的にも不可能でした。　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　但し、当初はT社の特許室長が短時間高速IR測定検査に関して、理解が全く出来ず頭から小馬鹿にし、冷笑って(せせらわらって)受付拒絶した問題が発生しました。（当方の腹の中では、「こんなのは極めて容易で簡単に実現出来る測定器の入力Z（インピーダンス）を小さくｋΩ以下にすれば、即実現出来るのに！知った被りの奴素人の技術者風情が？」と思っていましたので、御返しに嘲笑い(あざわらい)（無論、彼には解らない様に）で誤魔化しました。変に疲れます！
このT社の愚鈍な特許室長が、コアとなりますコンデンサの全数IR測定検査が実現出来ます短時間高速IR測定検査法を小馬鹿にして受付を拒絶した為に、この考案し実用化した折角の重要な検査方法も即特許化出来ませんでした。（ここでも問題になる、極めて狭い知識と微小な経験に依る知った被りする愚鈍な特許室長の存在が企業にとっても大問題です）（責任は発明者にあるから、T社の特許室長は余分なクレームを付けて特許申請を大幅遅延する権利も義務も無い事を自覚すべきであると痛切に思いました）
その原因は、その極めて愚鈍なT社の特許室長にその原理と実現可能性に関して執拗に何回も説明しましたが、その方の極めて狭い知識と拙い経験等から御納得頂けませんでした。その方が定年退職するまで数年執拗に何回も申し入れしましたが、無駄でした。思うに理解する為の知能指数が絶対的に足りなかった又は、認知症寸前の症状とも思われます。その方が定年退職後漸く特許申請出来ました。
その日本特許は当時特許窃盗（うろ覚えでは確かM製作所の生産技術部の名刺を使って、独創的な技術保有する中小企業へ訪問して、特許になりそうな技術を盗む所謂技術窃盗）の疑いで特に有名な話でしたが、今では超一流の電子部品企業のM社名とその超一流の電子部品企業のM社の技術者名で既存日本特許として当時に登録されていました。但し、米国特許としては登録されていませんでしたので、已む無く米国特許として登録しました。この様に所謂無駄な時間が掛かっては、折角の日本特許が不成立になる危険性と共に特許料収入ならびに、重要な日本国内の特許対策にも問題になる確率が極めて高くなります。
尚、全数IR測定検査が出来る短時間高速IR測定検査法は、MLCCの誘電体の中でも最も大量に生産されていた高誘電率系セラミックのZ5U系材、関連の高誘電率系セラミック材の電気的物性に対して、特に効果があり、並びにC/DF測定での高誘電率セラミック材特有の電気的物性に依る電圧引加後に変化したC/DFの二重測定検査による超高信頼のPPB化及びそれ以上(開発目標PPTレベル)の検査レベルに貢献しています。この件は、セラミック誘電体工学に関する学会（電気学会基礎・材料・共通部門 (A部門)誘電・絶縁材料技術委員会等）で（無論、社長の認可を頂いてからですが！）論文発表すべき事項ですので電気的物性解析（推定を含む）及び電気的物性を確認して準備しましたが、上記の通りの問題により変に疲労したので没にしました。同時に、短時間高速IR測定検査に伴うMLCCの検査方法も（無論、社長の認可を頂いてからですが！）この学会等で論文発表すべき事項ですが、上記の通りの問題等により同様に没にしました。ですが、別の観点からは、これ等の学会で発表し当時中小企業各社の特許窃盗疑惑がありました今では超一流の電子部品企業のM社に対しての「M社の技術者からの質問を受けて反論し論破（撃破）する」若しくは、「M社の技術者へ質問して、該当のコアになる技術的破綻等を指摘し撃破（論破）する」と言う謂わば悪魔の誘いがありましたが、疲れるし無駄な時間等と考えられ已む無く断念しました。無論盗人猛々しい彼らが、各学会で発表する事も事前に想定し確認済みで、分かっていましたから尚更残念でした。

MLCCの測定検査分類機（左側の開発初期型(1994年頃、但し、前モデルも同様）の二台のC/DF測定器及びLIR_TV_IR測定器（右側下段中間ブランクパネルは、HP4339A（4CH_IR測定器）用として準備用意した物）と右側の標準的な二台のC/DF測定器及び二台の4CH_IR測定器、その他の測定器に依る標準構成での超高信頼化（特に、全数IR測定検査）（高誘電率セラミックの電気的物性を応用した基本開発設計測定検査目標レベル:PPT）)

MLCCの測定検査分類機：私が考案し開発設計及び製品実用化しましたC/DF → Low Voltage IR → 耐電圧 → Normal Voltage IR → 2nd C/DF → Sorting：特に、高誘電率セラミックの電気的物性を応用した電圧印加後の⊿C及び⊿DFの変化を選定出来る測定検査が、超高信頼のPPBレベル以上(基本開発設計目標検査不良率PPTレベル)の貢献に、全数IR測定検査出来る短時間高速IR測定検査法と共に超高信頼のMLCCの測定検査分類機です。
この超高信頼の測定検査方法は、特にMLCCの誘電体である高誘電率セラミックの電気的物性を応用した超高信頼(基本開発設計目標検査不良率PPT)の測定検査方法として有効ですし、他の誘電体でもPPB化の測定検査方法としても有効です。
本件に関して、MLCCメーカー各社の内、最初に具体的に本方式を導入検討するように部下に御指示して頂いた顧客は、1993年頃のインターネプコンジャパンで本方式のMLCCの測定検査分類機を展示説明していた際に、御来訪されて御質問頂きその具体的な事項（全数IR測定検査出来る短時間高速IR測定検査および特に、高誘電率セラミックの電気的物性を応用した電圧印加後の⊿C及び⊿DFの変化を選定出来る測定検査）を御検分し御確認頂いた、TDK-MCC社です。次に、1994年以降の米国のKemet社（導入決定して頂いたこの会社の取締役兼部長担当殿から、「部下等には、博士号を持っている人も多数いますが、あなたの様な全数IR測定検査出来る短時間高速IR測定検査方法と独自のC/DF二重測定検査法（高誘電率セラミックの電気的物性を応用した電圧印加後の⊿C及び⊿DFの変化を選定出来る測定検査）の考えに至る人は、残念ながらいません」との御評価を頂きました）更に、松下電器社及び、ローム社（導入を御決定頂いた事項は、全数IR測定検査出来る短時間高速IR測定検査および高誘電率セラミックの電気的物性を応用した電圧印加後の⊿C及び⊿DFの変化を選定出来る測定検査）でした。太陽誘電、京セラ、村田等には、未納入でした。
当方のT社在任時に、1995年頃過去に勤務していましたローム社のMLCC生産拠点となっていました旧AVX社富士工場の親しい生産技術の技術者の方から、当方の特許に元ずくMLCCチップ測定検査分類機で不良率が零PPM（特に、IR測定検査）になる検査が出来ないか？との御相談を受けましたので、具体的なIR高速測定の検査設定方法及び、低電圧IR、TV、通常IR高速測定検査後即ち電圧引加後のC/DF測定検査の設定ノウハウ等を伝授しました。そうしましたら、生産量の問題等でローム社からTDK-MCC社へ納入した数百万個以上のMLCCが、TDK-MCC社の検査測定により、不良率が零PPM未満になりました。当時では実現出来る事が考えられないようなこの件の不良率に関して、TDK-MCC社の御見解では、推定不良率は数PPBオーダーになるという御見解でした。この当時では莫大な成果（ゼロPPM未満で推定可能な製品検査不良率が数PPBレベル）により、この技術者の方は、ローム本社の技術部門（半導体）へ栄転されました。TDK-MCC社内では、当方の特許に元ずく可成りの数のMLCC測定検査分類機を購入して使って戴いているのにも関わらずTDK-MCC社内（TDK製測定検査機も併用していた問題がある筈）では、この製品検査不良率の零PPM化を充分に達成出来ていなかったではないかと容易に推察可能です、何故なら、当方が全数IR検査が出来るMLCC用高速IR測定検査法及びC/DF等の重複となります電圧引加後の二重測定検査方法等の真の考案者であり特許者ですので。尚、1990年代では、電子部品の零PPM検査測定に依る数PPBレベルの検査不良率は未だに容易に達成困難な時代でした。更に、追加して、当時は数百万個以上の高誘電率セラミックを使ったMLCC等のIR全数検査は基本的にも絶対的に不可能でした（前述にもありますが、百万個単位の全数IR測定検査は、各々略壱万～弐萬時間程度要します）。ましてや、実際の検査結果が、零PPM未満であり更に、この結果による推定不良率レベルが数PPBオーダーになるとは？即ち想定外の極めて優秀な検査結果になりましたこのMLCC測定検査機の基本開発目標検査不良率がまさかPPTレベル？とは、恐らく想定困難と考えられます。
私が開発実用化したMLCC測定検査機の基本開発目標検査不良率がPPTレベルですので、上記の通りの筆頭ユーザーによるMLCCのゼロPPM未満の製品検査結果での推定可能な推定検査不良率が、数PPBレベルになるのは、技術的に当然の帰結になります。
何故なら、当方が旧AVX社の生産技術部勤務時代に、米国ESI社のC/DF測定器及びMLCC測定検査機並びに米国AVX社製MLCC測定検査機の致命的な問題点（但し、当方から見て）特に、当時はIR測定検査が抜き取り検査程度にしか出来なかった問題等（IR全数検査は、特定のユーザーの特注注文のみ）を把握していた事項を確認し謂わば（当時としては）革命的な改良開発発明となります全数IR測定検査開発等を実施し、基本開発目標検査不良率PPTと言った想定外となります7桁以上違う桁違いの開発を実施し改良をしたからです。
更に、「MLCC測定検査機の基本開発目標検査不良率PPT」を開発初期に公表並びに公言した場合には、上記の短時間高速IR測定検査法の特許の時の二の舞となります「頭から小馬鹿にし、冷笑い(せせらわらい)された、御返しに嘲笑い(あざわらい)（無論、解らない様に）で誤魔化す」様に、変に疲れる事はしたくありませんでした。ですから、開発初期にも具体的に公表並びに公言しませんでした。

L（インダクター）チップの1MHz～1GHz用測定テーピング機（1996年頃）

搭載する検査用測定器は、インダクタンス測定用HP4191A（1MHz～1GHz）とR測定用HP4338Aです。それ以降の測定器は、E4991A又はE4991B（1MHz～3GHz）とHP4338Bになります。
使用していますR測定用プローブは、T社の独自技術の標準的なケルビン接続測定の所謂四端子法用のRチップ測定用ワイヤープローブを使用しています。
高周波L測定用プローブは、私が考案開発しましたローコストの同軸のリジッドケーブルを使用した2端子型高周波測定用プローブを使用しています。（尚、この高周波測定プローブの特許は、一昔前で当方にとっては常識的と考えられる物であり定かではありません）肝心なその高周波特性は、100MHz近辺では測定再現性に優れ（1%未満）、測定に関する問題は全くありません。更に、300MHz程度まで（3%未満）実用上使えます。このプローブに、セミリジッド同軸ケーブル等を採用した場合の高周波測定には、測定値が不規則に変化し測定再現性に欠け使えません。
尚、これ以上の周波数（～3GHz）で安定に測定出来るプローブも考案済みで開発中でしたが、コスト的にはこの安価で容易に使えるプローブには惨敗で且つ需要予測からも開発中止にしました。
L（インダクター）チップのGHz迄の高速測定分類機又は測定テーピング機の実現：R測定→L測定
高速R測定器：主にL（インダクター）チップ用としての抵抗値の高速測定検査用として提案：HP4338A ⇒ HP4338Bは、34ms未満の高速測定で低定電流でのｍΩ未満迄測定検査：当時でも最適化すれば、10ms未満で測定可能でした。
測定検査用データ及び、校正時用のインターフェースは、内臓されたGP-IB（HP-IB）です。
HP4191A等との測定テーピングシステム構成には、GP-IB_I/Fの装備が不可欠です。
多連Lチップのインダクター測定検査、R測定検査、IR測定検査含むテーピングシステム
多連を含むチップバリスタの測定(高速バリスタ電圧、C/DF及び短時間高速IR測定(当方が提案した前述の測定器))検査部分類システム又はテーピングシステム
測定検査分類機及び測定検査テーピングシステム等（客先へのマーケティング活動含む（日本の大企業を含み、及び韓国））の独自開発及び受注
検査用測定器の選定評価検査確認
検査用プローブの開発(直流からGHz帯迄)又は市場品の流用等々
ハード組立調整（メカから、強電及び弱電迄）
ハードの強電の特徴：数kVAの測定検査システムがUPS無しで瞬時停電（瞬停及び瞬低）に耐え誤動作しない極めてローコストの電源システム開発及び組込実用化（宣伝せず特許は無申請：他社コピー防止の為）
この折角の社内技術を使わずに機械を、大変御世話になっています客先へ出荷したのは現Y部長（所謂太鼓持ちで、現社長の同類項で種々の問題有）です。中途入社であるのに拘わらず奢り高ぶり、この重要な社内技術を確認もしない（確認も出来ない、所謂、社内技術常識に欠ける）で機械へ実装せずに、大変御世話になっています顧客のTDK-MCC社にPLCを使用した機械を納入し、その客先で瞬停（夏季は落雷、冬季はスリートジャンプ及び落雷）に依る誤動作（瞬停後の高容量MLCC用測定テーピングシステムの再稼働時に、正常にテーピングが不可能になりMLCC製造現場作業員では、復旧不可能になりました）に依る問題が発生し、客先へ大変な御迷惑を御掛けしました。何故なら、特注仕様で搭載した測定器が標準で内臓されたGP-IB（HP-IB）である事を無理解同様の問題となる測定検査用データ及び、校正時用のインターフェースは、この機種の標準で内臓されたGP-IB（HP-IB）ですので、瞬停事故時の対応対策が重要であり且つ必須となりますのは、所謂社内技術常識となります。従いまして、私が直接客先訪問し確認しないで、直感的に原因が即判りましたので、このY技術者へ客先にすぐに訪問し当社の瞬時停電対策を追加装備するように命令し指示しました。こんな安保馬鹿の類の現Y部長に浸ける薬はありません。何故なら、正常な社会人として常識的な謝罪の言葉に欠けるY技術者にはほとほと呆れました。追加して、当方がこの会社の在籍時代に部下に激怒し憤怒し且つ命令し指示したのは、この現Y部長のたった一人でした。憤った場合（例として、下記のH部長の息子のH部員）でも、部下の管理職に任せ静観する様に決めて実行していました。（多分頼りない部長兼取締役とでも思われていたでしょう？　何故なら、前述の様な実用困難な極めて厳しい開発設計を実用化する姿勢での厳し過ぎる𠮟責になりますので、パワハラ問題になり兼ねません。尚、ボーナス前等部下の業績評価では、優しい評価（甘すぎる？）と優しい方向付けを基本としていましたから、尚更です）　更に、現Y部長は、上記のスリートジャンプすらも御存知無かったと断定し断言出来ますし、御自分の総合的な技術力の貧困さの酷さを認識すべきです。
更に追加して、判明したこの現Y部長のこの種の極めて低レベルの愚鈍ともなる問題は、PLCを使った特注仕様の高容量MLCC用測定テーピング機、即ちT社独自の標準的なMLCC用測定テーピング機のCメーターをHP4263Aへ搭載変更した時に関連する問題です。何故なら、この特注仕様で搭載した測定器が標準で内臓されているGP-IB（HP-IB）である事を無理解な問題ともなりますが、測定検査用データ及び、校正時用のインターフェースは、標準で内臓されたGP-IB（HP-IB）ですが、偶々偶然的にその機器の客先への工場出荷直前のデバック時に出会い、当方がそのHP4263A測定器内臓のネットワークアナライザ方式の校正方法をMLCC製造現場のC校正方法に合わせた方式即ち零PF校正方法へ変更する指示を即行ないました。ですが、大変残念な事に、当時のY技術部員からは、部下としての正式な謝罪並びに謝意の言葉は一切ありませんでした。尚、当時のこのY技術部員は、一般従業員としても失格ですし一般社会人としても失格です。この様な方が、今や現Y部長とは、笑止千万で到底理解出来ません。尚、御参考用に和文モールス符号で打鍵（電鍵操作）する場合は、「ツートトト、トト、トツートト、トツートト」「トット」となります。この和文モールス符号を解読して頂いた方には、多分破顔爆笑問題？でしょう。
測定検査システム及び測定検査テーピングシステム用の主要で極めて重要なステップ回転駆動機構用一回転の高速ステップ回転駆動出来るDCサーボモーター及びハーモニックドライブ（50:１）について、1988年からの開発当初の実用化では、九州松下電器の一回転の高速ステップ回転駆動出来るDCサーボモーターに50:１の特殊ドライブに依るステップ回転駆動機構でした。そのドライブを小型軽量で長寿命のハーモニックドライブ（50:１）へ変更したステップ回転駆動機構へ設計改良し、以後の関連します全ての測定検査システム及び測定検査テーピングシステムへ変更し改良しました。（この高速ステップ回転機構開発実用化の当初の1988年からDCサーボモーターメーカー各社と一回転の高速ステップ回転駆動の実用化について技術打合せを行いましたが、安川電機含め良い回答は無く、九州松下電器の只1社のみでした）（一回転の高速ステップ回転駆動には、必要最小限の直径の低イナーシャのローターを備えた又は再設計したDCモーター（場合により、軸方向に長いタイプへ改造設計必要）と、ダンピングを抑制した制御と、発熱又は放熱対策の三つの問題解決が必須でした）
尚、50:１のハーモニックドライブは、100:1のハーモニックドライブへの変換が比較的容易に可能です。
DCサーボモーターが安川電機製になっているシステムは、基本的にK所長に依るデッドコピー版若しくは、九州松下電器製からの置き換え版です。
本件に関しましては、中途入社で常務取締役に迄になられた方（確か、T氏）は、技術部の技術説明会で安川電機製DCサーボモーターを紹介し、安川電機の技術者等に説明をして頂いていましたが、冷静に静観していました（これ等の件については、何等具体的な社内技術等を御存知無いし、知ろうとしない愚かな方として、更に時間の無駄等々、特に、上記の通りの開発の経緯並びに経過が無知であった事実並びに中途入社のK所長の関連等論外の沙汰でした）
ソフトデバッグ、測定検査値の評価並びに改良と取説作成及び客先納入稼働で超多忙でした。
現状のT社の顧客向け測定検査分類システム或いは測定検査テーピングシステムを第三者からの進捗状況を把握した場合は、20年以上キーとなる開発責任者（当時の取締役兼技術部長と同等）不在である為に殆ど進んでいないと見做されます。キーとなる開発責任者（当時の取締役兼技術部長）を現会長及び現社長が邪魔者扱いし追い出したと同様の事由により、後任が全く育てられなかった事にも依ります。
電子測定器全般（特に高周波系及び、直流系）を深く理解して応用出来る事、機械系の応用特に測定用プローブの開発応用、強電系の応用技術、システム構築技術ノウハウ等多範囲に渡る深い知識並びに応用技術の確立は、一朝一夕には絶対的に不可能です。
T社は社内教育をしているようですが、外部の技術者を呼んでもレベルが低く専門性が希薄な方々では、何等参考になりません。
何故なら、過去の例からも、当時の社内の確かT氏と言われ常務取締役迄なられた方は、何処の会社にも居る太鼓持ちで典型的な胡麻摺りおべっかの権化であり、残念ながら奴素人と同様な拙い技術力と所謂無配慮な方でした。（当方の辞任が判った直後に、例の悪評高い冷暖房完備？のテクニカルセンターへ事前連絡無しに当方の机の前に1時間以上居座っていたのは此の方です（御自分の技術力等が欠けている事を認識している為および御自分の低レベルの技術力等が公にならない様に、現社長の期待に応える様に当方の種々の技術力を利用する為に等々）。大変に邪魔でしたので、無言で退出するように促しましたが御分かりにならなかった様です：無配慮例）
（居座って所謂無配慮等については、現社長と同様で同類項は集まる典型例）更に、例として、技術的な件で顧客から呆れられている事に全く気がつかない鈍感さ？とその技術知識力及び技術力の低さのその呼ぶ方のレベルによりますので、当然の事としてレベルが低く基本的に無理な話になります。10年以上から数年以上前の技術的に古典になる説明を然も最新と称して述べているのが何等分かっていないとか？技術的に肝心な主要となる事項を解っていない！とか、重要な社内技術の等閑視と言うか無知な事実とか（尚、現社長はこのT氏という元常務取締役には、低レベルの技術及び技術知識等しか持ち合わせていないにも拘わらず変に絶大的な評価をされていましたが？）全く笑止千万で時間の無駄でした。

2.経営的な面

先ず、当方が転社し中途入社して、1987年の時の年間売上高約29億円の時に、年間売上高100億円以上にする提案を本社の傍で他に人がいない状況の時に社長（現会長）へ申し入れしましたら、その必要は考えていないし現状維持で問題ないと言われました。
それから8年経過した1995年に年間売上高100億円を超えましたが、その時の年度の事業計画では、例として50億円から倍の100億円になった年度での貢献した主な機種とその技術担当等を称え事業方針に関連付ける必要がありましたが、それが有りませんでした。たとえ口頭でも褒めたり鼓舞し方針を示すべきでしたが、それが有りませんでした。
更に、2000年には、300億円以上の年間売上高になりましたが、その時の年度の事業計画でも例として100億円から3倍の300億円になった貢献した主な機種とその技術担当等を口頭でも褒め事業方針に関連付ける必要がありましたが、それが有りませんでした。
この様な一般社会常識から乖離した寄与褒貶では、社長（現会長）の社員全員からの人望等に欠ける事に成り兼ねません。
若しも、この会社をより発展し社会に貢献出来る様にするには、イエスまん以外の従業員共々どうすれば良いか良く考え検討する努力が必要と思いませんか？
現在の年間売上高200億円強で、現在迄に赤字の年は無いと豪語されていますが、このままでは年間売上高300億円以上を連続して達成することは略困難と見なせます。尤も、人望に欠ける現社長では、先ず無理と見なせます。

3.著名な建築設計事務所RYに依る欠陥建築物となる旧テクニカルセンターに関して

著名な建築設計事務所RYに依る欠陥建築物の旧テクニカルセンター

夏はサウナ並みの熱さ、冬はコンテナ並に冷える典型例

それ以外で、余りにも馬鹿馬鹿しくて失念していた事（閑話休題？かな？）がありました。それは、超多忙でした時期に私の専門外ですが、著名な建築設計事務所RYに依る欠陥建築物となりますT社の旧テクニカルセンターの問題発生とそれを略解決した事項です。
それは、５億円で竣工したと言われるT社の旧テクニカルセンターの明らかな欠陥建築対策の改造改善の設計及び工事。それらは、全て私の設計並びに施工管理により、複数の技術者及び合計で2億円以上掛かる工事を、約６千万円の事後承認工事で漸く決着しました。（私の労務費等を入れると、時価換算して合計で、一億円以上の費用を要します）
有名で高名な隅健吾氏と略同様？に、著名な建築設計事務所RYに依る欠陥建築物のT社の旧テクニカルセンターに関して、建築施工前から当時の次期社長のKK（現社長）（日本の悪い慣習の一例：能力の有無に関係なく自分の息子を社長にする）が「これは私が、社長(YK)（現会長）から任された」と自信満々で奴偉く傲慢に宣い、建築設計施工管理依頼先RYの施工管理技術者は、私立大学の建築学科を卒業し社会人になったばかりの建築現場での業務実績が全く無く、且つその方は学生時代に建築に関して徹底的に勉強し努力した姿勢に欠ける事が直ぐに解る謙虚さに欠け（知った被りの典型）、誇り（埃の間違いか？）高く他人からのアドバイスを即無視する技術屋気取りの奴偉い方と、当時部長でした勉強も努力も殆どされない方で、且つ工場建築の完工実績に欠けるN工場のH部長に相談するから、「土屋には、一切相談しないし、土屋は余分な口出し無用」と自信満々に盛大に宣（のたまわ）って戴いた結果のとんでもない呆れた欠陥建築物です。無論、当時このT社とは無関係のスーパーゼネコン5社の中の大成建設との実績が有ります米AVX日本支社の富士工場建築時のノウハウ等も全く活かせませんでした。
「スーパーゼネコン5社の中の大成建設との実績が有ります米AVX日本支社の富士工場建築時のノウハウ等」とは、当時の次期社長KK（現社長）及び現会長からは全く確認されていませんでした「米AVX日本支社の富士工場建設に伴う付帯設備及び建設施工に伴う不具合個所の指摘並びに現場の施工責任者が実施出来ない場合は具体的な改良工事を当方が設計監督し実施した」ですが、この締めの最終打合せ時の会合時に、大成建設の取締役を始めとした錚々たる方々からの御礼を頂きました。但し、渋々不承不承の方（特に、建設現場の施工責任者）はこの取締役から即その理由と共に叱責注意されていました」無論これ等は、専門及び専門外でも、一朝一夕には出来無い事ですが、必要性と興味ならびに趣味がありまして、奢る事無く長年に渡って勉強し努力した結果と考えられます。
この欠陥建築物であるT社の旧テクニカルセンターの限定があります改良工事が完了後に、更に、大きな問題が発生しました。その問題は、当方が実施した欠陥建築物の限定がある対策工事が完了した後に、この当時の次期社長KK（現社長）が、関連会社及び協力会社の方々に「あいつ（土屋）は辞めさせてやる」等と聞き捨て成らない莫大で絶大な御戯（おふざけ）を宣っている情報が、非常に大変に運悪く入りました。どうぞ御随意に御勝手に宣わっておられたら如何とも思いましたが？
この情報には、当初は常識外れで馬鹿馬鹿過ぎて全く信じられませんでしたが、上記の様な態度で仕事をする人間には、充分にあり得る事項であり、従って、次期社長KK（現社長）は一般社会人として失格であり、当然次期社長（現社長）には全く適切では無く、度量に欠ける企業のトップとして絶対的に勤められない人間として再認識しました。
更に、このT社の旧テクニカルセンターの欠陥建築対策の改造改善の設計及び改善工事に対して、施主YK（現会長）は、そんな余分な事より本来の技術業務に励むべきだとの呆れた見解で、一切称揚せずにその年の役員賞与は一円も支払いませんでした。（この様な状況では一般社会常識的に考えて、「即辞めろ」と言い渡したと同様なのが判りませんか？それで宜しいのですね？と高邁な事を宣って戴いたYK社長（現会長）様と変に大変有難く思いました。更に、意気消沈し呆然自失状態になり精神的に焼き切れた影響により結局は、15年程度継続しました。（こんなにも呆然自失状態になり継続したのは、仕事に徹底的に邁進し精進した反動であり、精神的に焼き切れましたが、有り得ない事実でした））
追加して、このT社の旧テクニカルセンターの欠陥建築物に関する当時の次期社長KK（現社長）に対する責任の有無を問われた形跡は一切ありませんでした。正常な会社であれば責任の有無を次期社長KK（現社長）に問いますが、それを全く行わない一般常識を覆す超奴偉い絶大で変な会社としか思えませんでした。（一般的には、当時の次期社長KK（現社長）に対して、賞与ゼロ及び1年間の給与を半額にする等の賞罰を実施する責務等が、当時の社長YK（現会長）に存在した筈ですが？）
この役員賞与ゼロ円での辞任直後に関連会社の栄和電機の八百板社長（故）から面談の電話要請があり、直感的に厳しい嫌な事を言われると思いましたが、已む無く出掛けて話をしました。そこでは、ご自分の会社の事で関連する仕事の方向付けの億円等の話等の直後に、「処で役員としての退職慰労金は、少なくともニ～三億円払って頂きましたか？」と微笑しながら真剣に尋ねられたので、バレバレになり不味いですが、沈黙を守りました。（「冗談じゃない、仰る常識的な世間相場のその約三十分の一程度でした」とは、言えませんでした）（更に、不味い事にこの種の情報は協力会社間で即共有される筈と考えられる事を失念していました）
この欠陥建築物であるT社の旧テクニカルセンターは、著名な建築設計事務所RYに依る設計者RY（現在は、某私立大学の客員教授）が、設計し施工管理しましたが、その設計欠陥を認めずその問題に対する謝罪等が一切ありませんでした。何故なら、下記の（公社）日本建築家協会が発行する雑誌に掲載された御自分の設計及び施工管理が絶対的に実現不可能な絶大な御巫山戯（おたわむれ）を宣われた超奴偉い御本尊様（RY）ですから？
JIA MAGAZINE Vol.328 2016年7月号に記載されています表題「設計の全責任は建築家にある」及び記事7頁の「設計に関する全責任は設計者がとる。設計の瑕疵は設計者が責任をとる」と断言され、且つ、記事9頁「minergicという厳しい省エネ基準がありますが－－－断熱をしないで「空調機をガンガン使えばいいじゃないか」と施主が言ったとしても、建築家たちは、そうした考え方自体が建築家としては許せない」並びに、記事10頁の「日本だと、断熱がない代わり外から見て恰好がいいという建築が多くあります」等とRYが厳守し設計し施工管理する事が絶対的に実現不可能な絶大な御巫山戯を宣われた超奴偉い御本尊様（RY）です。
そのT社の旧テクニカルセンターの建築設計の瑕疵は、夏季晴天時等（晩春から初秋含む）は室温が30℃以上の高温（平均32℃から35℃）になり、謂わばサウナと同様で技術的な頭脳労働には適せず、熱中症になる危険性があり厚労省の熱中症予防策に反します。それは、厚労省の熱中症予防リーフレット等の熱中症予防策に依り、室内では、室温28℃以下に調整する必要があります。更に、冬季の曇天時雨天時降雪時等には室温が下がり過ぎ、謂わばアイスボックス的な住居と同様でダウン等を着る必要あり、技術的な頭脳労働の仕事に適した環境を維持するには程遠い建築設計瑕疵及び欠陥がありました。当時の次期社長KK（現社長）及び主たる設計施工管理した建築設計事務所(RY)はそれ等から逃避し無策の儘でした。当時の次期社長KK（現社長）は、当時の社長YK（現会長）から一任されているなら最後迄面倒を見るべきであり、この様な責任からの逃避は、先ず次期経営者として、失格であり、次に常識ある社会人としても失格です。最終的にはこの欠陥建築物は、私の辞任後で且つソーラーパネル設置数年後（パネル設置に依る雨漏り発生は、必然的に発生）には解体しました。（証拠隠滅かな？）
その建築設計施工された欠陥建築物であるT社の旧テクニカルセンターへの就業し稼動中に於ける対策工事の限界があります設計施工管理（本来の技術的な正常な仕事の稼働中に、これ等の改良工事を並行する）の主な四つの事項は、以下に示します。
１）屋根断熱は、特殊な断熱塗装処理を屋根全面へ施工（本来であれば、超軽量で断熱性が極めて高い板材及び高性能赤外線反射材等を、屋根裏面に貼付・取付工事が望ましいが、本来の技術的な仕事の稼働中に、足場を組んで作業する必要があり、本来の技術的な正常な仕事の稼働中には絶対的に不可能な工事です。但し、建築初期に当然常識的に工事すべき極めて重要で初歩的な問題でした。例え施工図面に記載が無くても、設計者にクレームして施工変更すべき事項でした。尤も、施工管理者が建築現場での業務実績ゼロの新社会人になったばかりの大卒の素人同様の技術者では、当然となりますが期待する事は全く無理でした。尚、屋根裏断熱及び天井断熱を建築設計図面から施工変更していましたら、冷暖房負荷が大幅削減出来ましたが、上記の如くに宣われる著名で変に超奴偉い方には、残念ながら釈迦に説法か？ともなります）
２）外壁のガラスウオールの内面全面に、３M製特殊断熱フィルム（アルミ蒸着フィルム以外の特殊断熱フィルム）貼付
３）空調設備改善は、吹上ファンユニット無しの床下へ、この建物の類では常識的な二種類の吹上ファンユニット（床下長に依る、ブロワー（シロッコファン）型又はファン（軸流ファン）型）を追加し、床上2m迄適切な室内温度維持（この類の空調の技術的な常識に欠ける欠陥設計を全面改良改善）（尚、この工事を行う際に空調業者から「著名な設計施工者(RY)の建築に対して、工事後の責任を問われますから工事を御断りしたい」と言われ「私が全責任を持つので工事を行って頂きたい」と申し入れて、渋々工事を進めて頂きました）
４）その他、大学卒業して最初の建築施工管理経験となる素人同様の技術者が施工管理した問題点の対策工事（但し、限界有）を実施しました。
以上の様な改良改善工事を行い漸く実用的に何とか使える様にしましたが、建築関係に奴素人の当方に対しての当時の社長YK（現会長）の評価は上記の様に絶対的なマイナス無限大同様に追加して「役員賞与ゼロ」でしたので「即辞めろ」を言い渡されたと同等でした。こんな社会的な常識的事項も御分かりになりませんか？とも思いましたが？

4.中途入社した機械系技術者K部長の特許に関しての疑問

後任に誇り高い？現社長と親しい上記の通りの同類項で太鼓持ちのロームから転社した機械系技術者Kが赴任して、基本的に雨漏りしやすいデリケートな屋根に、態々ソーラーパネルを十分な確認せずに設置したとしか考えられませんが？（これ以上の詳細は、言わづもがなで省略）
この方が中心になって特許化しました「ワークの外観検査装置およびワークの外観検査方法：特許5598912号＆特開2011-133458」に関しましては、以下の４点の疑義があり、特に「コアになる同等の技術コンセプト」が存在している問題が疑惑になります。
１）コアになる同等の技術コンセプトを装置にした製品が、フランスの某社から商用BVA発振器発売頃に「部品を静電力により、円盤上に整列する装置」が発表されていましたので、英語でテレタイプ質問しましたら、仏語のテレタイプ回答（当時は、誇り高い仏人の常識的回答形式）がありました。当時は、インターネットが普及する直前の時代でした。この新規性喪失の事実を特許丁へ通告しますと、この特許は既存の認知事項として無効になる筈ですが？新規性喪失の例外期間を超過している現在では特許自体は無効になりません。但し、道義的な責任が存在すると共に、争った場合の判定は別問題になり無効判定と同等になる可能性が大きいと考えられます。何故事前に徹底的に調査しなかったか若しくは知っていたが、等閑視して白ばくれた可能性もあります。
２）この特許に、コアになる同等の技術コンセプトが含まれている製品又は特許（国内外問わず）等が存在した場合には、常識的に考えて新規性喪失すると共に技術盗用と見做されます。
３）このT社の特許の既存技術に関する情報確認の体制の問題は、同等のコアとなる技術コンセプトを使用した製品または特許等の徹底した検索体制の欠如となります。（前記の様な愚鈍な特許室では当然か！）何故なら、素人でも目視で確認し理解出来る事項は、事前確認調査を行う事を徹底的に行わなかったと見做されても、即特許として登録申請するが、理論的に難しく全く理解出来ない事項（代表例としては、短時間高速IR測定検査方法）には、馬鹿にしたり、下らない難癖を付けて特許申請を暫くというか当面放棄した事実があるからです。従いまして、既存製品又は、特許製品及び既存特許の検索体制等々を大変困難な事になる筈ですが、見直す必要があります。
４）新規性喪失した既存の技術をT会社のホームページへ何故掲載しているのか？新規性喪失したと見做せても年金（特許維持費用）を支払うのでしょうか？

5.以上の項目の、結果的事項

結論として、当時は、マイナス無限大同様の評価及び役員賞与ゼロの問題で無力感が100%漂い、加算して雀の涙の退職慰労金の問題もあり、呆れて完全に無力になり、更に阿呆らしくて「やってられません」とも思わない様な全力の脱力感で無表情にもなっていました。この壮絶な無力感及び脱力感の精神的に焼き切れた影響により結果的には、15年程度（プラス約4～5年程のコロナワクチン後遺症で合計約二十年程）の継続となり辞任後の生活の障害になっていました。（自分なりに、仕事全てに対して常に全力を尽くして努力・尽力していました反動で、精神的に焼き切れたていたからです（何故なら、四回目の過労死寸前でした（過労死寸前五回目は、絶対的にあり得ません。死亡した後ですから））
この欠陥建築物のT社の旧テクニカルセンターに関して、スーパーゼネコン5社の中の大成建設の取締役及び部長クラスと比較しても、建築設計施工管理依頼先の部長クラスの責任者を含め玄人の筈が、ガッカリする様な奴素人同様と思われる様な実力では応対及び対応不可能になります。
欠陥建築物のT社の旧テクニカルセンター対策対応の為に、及び他の仕事とのの関連で徹夜休日も厭わず更に自宅でも行使した膨大で莫大な検索検討時間と設計検討時間をT社の君達は解っているのか？と問いたかったです。これらの事由により、これら等を急遽無理矢理にひと段落させ決着後に即辞任する事にしました。それに伴いこのT会社からの電話/FAXは、正当な理由に欠ける役員賞与ゼロ及び雀の涙の退職慰労金等に依り「恩も義理も」総て消滅していましたので、無論即自作のWS（ワークステーション）制御によりルーター設定等を総て着信拒否にしました。何故なら、上記の通りの関連会社の社長からの常識的な退職慰労金の話の約三十分の一の退職慰労金等では当然で常識的な処置となります。ましてや、仮に15年以上経過としての常識的な法定利息（年間15%の複利）に基く30億円以上を今更御支払い頂く事等は、常識的に到底困難な事でしょう。
この様な超多忙なのに！これ以上過労になるな！死んでたまるか！が、当時の率直な感想でした。
毎日12時間から14時間勤務人にも、御祈祷でも無いのに何が、「極力残業しないで定時に帰宅するように」との高邁な理想論を宣まわれましても、現実逃避および回避としか考えられませんのは何故でしょうか？
　
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本件に関しまして、疑問・御質問など御座いましたら、下記に記載のメールへ御願い申し上げます。

m_tsuchiya@sea.plala.or.jp（@　→　@）へ御願い致します。

1.技術的な事項(電子部品用検査システム開発設計および製品化（特に、全数IR測定検査に依るMLCC用基本的な目標測定検査不良率PPTレベル）、その他技術面に関して

関連の測定器等々

L（インダクター）チップの1MHz～1GHz用測定テーピング機（1996年頃）

2.経営的な面

3.著名な建築設計事務所RYに依る欠陥建築物となる旧テクニカルセンターに関して

著名な建築設計事務所RYに依る欠陥建築物の旧テクニカルセンター

夏はサウナ並みの熱さ、冬はコンテナ並に冷える典型例

4.中途入社した機械系技術者K部長の特許に関しての疑問

5.以上の項目の、結果的事項