電子部品測定検査機械メーカーのT社取締役兼技術部長を突如辞任した話　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　1.特許事件(M社による特許盗用含む)：MLCCコンデンサ用短時間高速(Ref.1ms～20ms)IR測定検査(全数IR測定検査)に関して　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　2.基本開発目標測定検査不良率PPTのMLCC用測定検査システム開発実用化：1990年代に実検査不良率PPBレベル（推定）の測定検査システム実現化：高誘電率セラミックの電気的物性も応用　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　3.欠陥建築物：著名な建築家(RY)の設計施工管理問題　　：土屋