電子部品測定検査機械メーカーのTW社取締役兼技術部長を突如辞任した話　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　1.特許事件(村田製作所による特許窃盗 (疑い) を含む)：主にMLCCコンデンサ用短時間高速(Ref.1ms～20ms)IR測定検査法(全数IR測定検査法)に関して　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　2.基本開発目標測定検査不良率PPTのMLCC用測定検査システム開発実用化：1995年には測定検査不良率PPBレベル（推定）の測定検査システムとして実証：全数IR測定検査法および高誘電率セラミックの電気的物性を応用した測定検査法を含む　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　3.欠陥建築物：著名な建築家(RY)の設計施工管理問題　　：土屋