HFトランシーバーの局発の低位相雑音化の要求 : JA2GXU

局発の低位相雑音化の重要性

電子部品測定検査機械メーカーのT社取締役兼技術部長を突如辞任した話　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　1.特許事件(村田製作所による特許窃盗を含む)：主にMLCCコンデンサ用短時間高速(Ref.1ms～20ms)IR測定検査法(全数IR測定検査法)及び、高誘電率セラミックの電気的物性に関して　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　2.基本開発目標測定検査不良率PPT（１兆分の１）のMLCC用測定検査システム開発実用化：1995年には測定検査不良率PPB（１０億分の１）の測定検査システムとして実証：高誘電率セラミックの電気的物性を応用した全数IR測定検査法及び電圧印加後の⊿C及び⊿DFの変化を選定出来る測定検査法を含む　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　3.欠陥建築物：著名な建築家(RY)の設計施工管理問題　　：土屋

本記事は、私が電子部品測定検査機械メーカーT社の取締役兼技術部長を拝命していましたが、会社を私物化す...

周波数時間標準1-2.(デジタルオーディオ用及びアマチュア無線用):　　　(含む失敗談)　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　1.貸出品の損壊事件(日本総合制作㈱):セシウムビーム周波数標準器　 　　：JA2GXU　　　　　　　　　　　　

frequency std1-2 OPCFS MGCFS SrOLC